Reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies | INTEGRATED LIBRARY

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

{{tmpObj[k].text}}

No image available for this title

Text

Reliability wearout mechanisms in advanced cmos technologies

Reability...; Alvin W. Srong...[ et all ] - Nama Orang;

Bibliogrfai : hlm. 617-618

Ketersediaan — UPT Perpustakaan UNDIP

#

R.B. LT3 (Layanan Tandon) (cadangan) RB 510.1 REA r 2009 C.1

d116205

Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri: -
No. Panggil: 510.1 REA r 2009
Penerbit: New Jersey : Wiley., 2009
Deskripsi Fisik: xv + 624 hlm.: ilus. ; 25 X 15 cm.
Bahasa: English
ISBN/ISSN: 978-0-471-73172-6
Klasifikasi: -
Tipe Isi: text
Tipe Media: unspecified
Tipe Pembawa: unspecified
Edisi: -
Subjek: MATEMATIKA - FILOSOFI & TEORI
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Alvin W. Strong...(et al)

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar